DipartimentoIngegneria dei materiali e delle tecnologie industriali
Italian versionEnglish versionHome pageSearchMapPeople Università degli studi di Trento
up
right arrow DIMTI right arrow Persone right arrow Paolo Scardi

Dimti - Persone
Paolo Scardi
Ultimo aggiornamento: 15/04/2009

Posizione attuale vai all'indicevai suvai giù
foto: Paolo ScardiProfessore Ordinario di Scienza e Tecnologia dei Materiali

Portici (NA), 26/05/1960
Tel. +39 0461 882417/67/22
Fax: +39 0461 881977
E-mail: Paolo.Scardi@ing.unitn.it email
Personal webpage: www.ing.unitn.it/~scardi/ link esterno
Carriera accademica vai all'indicevai suvai giù
Laureato in Fisica (Università di Napoli, 1985)
Ricercatore (Università di Trento, 1986 – 1992)
Professore Associato (1992 – 2002)
Professor Ordinario (Facoltà di Ingegneria, Università di Trento, dal 2002)
Attività didattica (ultimi 3 anni) vai all'indicevai suvai giù
Scienza dei Materiali (Università di Trento, dal 1995 ad oggi)
Scienza dei Materiali 1 (Università di Trento, dal 2001 ad oggi)
Scienza dei Materiali 2 (Università di Trento, dal 2002 ad oggi)
Corsi per il diploma di dottorato in Ingegneria dei Materiali, (Dipartimento di Ingegneria dei Materiali e Tecnologie Industriali, Università di Trento, dal 2001 ad oggi)
Organizzatore e relatore della Scuola P. Giordano Orsini (Università di Trento, dal 1998 ad oggi)
Argomenti di ricerca vai all'indicevai suvai giù
Cristallografia dei materiali:sviluppo di nuove metodologie e modellazione di dati di diffrazione di polveri ed analisi delle tensioni residue;
Deposizione da fase vapore fisico (PVD) di film sottili di materiali metallici e ceramici resistenti a usura/corrosione;
Rivestimenti per barriere termiche (tecniche di deposizione Plasma Spray, ed e-beam) per applicazioni motoristiche (turbine a gas, motori Diesel);
Relazioni tra stress residui e tessitura in film sottili mediante metodi di diffrazione;
Profilo (in funzione della profondità) dello stress residuo (tecniche di Blind Hole Drilling, Diffrazione)
Analisi di materiali inorganici nanocristallini e fortemente deformati mediante modellazione del profilo di linea XRD;
Diffrazione da materiali mediante l’uso di sorgenti non convenzionali (radiazione di sincrotrone, neutroni);
Progettazione e realizzazione della nuova beamline (MCX) per la diffrazione dei raggi X da film sottili, rivestimenti e materiali policristallini, presso il sincrotrone italiano (ELETTRA, Trieste).
10 pubblicazioni vai all'indicevai suvai giù
P. SCARDI, M. LEONI, "Whole powder pattern modelling". Acta Crystallographica A58 (2002). 190-200.

P. SCARDI, "Profile Modelling versus Profile Fitting in Powder Diffraction", Z. Kristallogr. 217 (2002) 420-421.

P. SCARDI, M. LEONI, F. CERNUSCHI, A. FIGARI, "Microstructure and heat transfer phenomena in ceramic Thermal Barrier Coatings ", J. Am. Ceram. Soc. 84 [4] (2001) 827-835.

P. SCARDI AND Y.H. DONG, "Residual stress in fibre-textured thin films of cubic materials", J. Mater. Res. 16 [1] (2001) 233-242.

P. SCARDI, Y.H. DONG, C. TOSI, "r.f. magnetron sputtered thin films of nitrided Co,Ni-based alloy ", J. Vac. Sci. & Technol. A 19 [5] (2001) 2394-2399.

P. SCARDI, M. LEONI, " Diffraction line profiles from polydisperse crystalline systems". Acta Crystallographica A57 (2001) 604-613.

M. LEONI, P. SCARDI "Diffraction Techniques for the Study of Ceramic Thermal Barrier Coatings (TBCs)", Surf. Engineering 16 [5] (2000) 403-410.

P. SCARDI, M. LEONI, Y.H. DONG, "Whole diffraction pattern-fitting of polycrystalline fcc materials based on microstructure", Eur. Phys. J. B 18 (2000) 23-30.

P. SCARDI, "A new whole powder pattern approach", Cap 24 in: Defect and Microstructure Analysis by Diffraction, eds. R. L. Snyder, J. Fiala, H. J. Bunge, (IUCr series, Oxford Univ. Press Inc., New York, 1999). P. 570-596.

P. SCARDI, M. LEONI, L. BERTINI, L. BERTAMINI, F. CERNUSCHI, "Strain gradients in plasma- sprayed zirconia thermal barrier coatings", Surf. Coat. Technol. 108-109 (1998) 93-98

L’elenco completo delle pubblicazioni è su: http://polaris.unitn.it/ link esterno
Altre informazioni vai all'indicevai suvai giù
· Chairman della Commission on Powder Diffraction (CPD) dell’International Union of Crystallography (IUCr) per il triennio 1999-2002 (membro a partire dal 1996, attualmente Consultant per il 2002-2005)
· Presidente eletto della International X-ray Analysis Society (IXAS), e Councilor fin dalla fondazione della IXAS
· Membro del comitato intern. dell’ European Congress on Residual Stress
· Membro del comitato intern. dell’ European Powder Diffraction Conference
· Membro dell’ Int. Center for Diffraction Data (ICDD)
· Responsabile scientifico (per l’Università di Trento e per il consorzio INSTM) della beamline MCX ad ELETTRA
· Membro di comitati scientifici di diversi congressi internazionali, tra cui l’ultimo (Ginevra, 2002) ed il prossimo (Firenze, 2005) congresso mondiale IUCr.
· Organizzatore della conferenza Size-Strain III, Trento 2-5.12.2001
· Relatore su invito e plenario a diversi congressi internazionali nel campo della cristallografia, diffrazione e scienza dei materiali
· Referee di riviste scientifiche internazionali nel campo della cristallografia, film sottili/rivestimenti e scienza dei materiali in generale (regolarmente: J. Applied Crystallography, Powder Diffraction, Surface & Coating Technology, Material Science and Technology, Materials Science and Engineering)
· Coordinatore del Dottorato di ricerca in Ingegneria dei Materiali (dal 2004)